Прямые микроскопы Leica

Прямые микроскопы Leica Microsystems используются исследований в проходящем, отраженном или комбинированном свете.

Прямые микроскопы Leica имеют разную степень моторизации, позволяющую создавать 3D модели исследуемых образцов. Микроскопы используются в минералогии для анализа шлифов и аншлифов; в металлографии для анализа величины зерна, оценки загрязненности неметаллическими включениями; в исследовании полимерных материалов (пищевые пленки, пластики) и т.д.

Прямые микроскопы Leica Microsystems могут быть укомплектованы нагревательными столиками для исследований изменений микроструктуры при нагреве, источниками UV и NIR (УФ и ИК излучения), а также лазерным модулем для проведения спектрального анализа.